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    技術(shù) | 如何檢驗LED芯片的可靠性
    更新:2020-8-28 10:58:11 稿件:中國視聽網(wǎng) 調(diào)整大小:【

    LED具有體積小,耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點,在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價,并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。

    引言

    作為電子元器件,發(fā)光二極管已出現(xiàn)40多年,但長久以來,受到發(fā)光效率和亮度的限制,僅為指示燈所采用,直到上世紀(jì)末突破了技術(shù)瓶頸,生產(chǎn)出高亮度高效率的LED和蘭光LED,使其應(yīng)用范圍擴展到信號燈、城市夜景工程、全彩屏等,提供了作為照明光源的可能性。隨著LED應(yīng)用范圍的加大,提高LED可靠性具有更加重要的意義。

    LED具有高可靠性和長壽命的優(yōu)點,在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價,并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量,為此在實現(xiàn)全色系LED產(chǎn)業(yè)化的同時,開發(fā)了LED芯片壽命試驗的條件、方法、手段和裝置等,以提高壽命試驗的科學(xué)性和結(jié)果的準(zhǔn)確性。

    壽命試驗條件的確定

    電子產(chǎn)品在規(guī)定的工作及環(huán)境條件下,進(jìn)行的工作試驗稱為壽命試驗,又稱耐久性試驗。

    隨著LED生產(chǎn)技術(shù)水平的提高,產(chǎn)品的壽命和可靠性大為改觀,LED的理論壽命為10萬小時,如果仍采用常規(guī)的正常額定應(yīng)力下的壽命試驗,很難對產(chǎn)品的壽命和可靠性做出較為客觀的評價,而我們試驗的主要目的是,通過壽命試驗掌握LED芯片光輸出衰減狀況,進(jìn)而推斷其壽命。

    根據(jù)LED器件的特點,經(jīng)過對比試驗和統(tǒng)計分析,最終規(guī)定了0.3×~0.3mm2以下芯片的壽命試驗條件:樣品隨機抽取,數(shù)量為8~10粒芯片,制成ф5單燈;工作電流為30mA;環(huán)境條件為室溫(25℃±5℃);試驗周期為96小時、1000小時和5000小時三種。

    工作電流為30mA是額定值的1.5倍,是加大電應(yīng)力的壽命試驗,其結(jié)果雖然不能代表真實的壽命情況,但是有很大的參考價值;壽命試驗以外延片生產(chǎn)批為母樣,隨機抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片,封裝成ф5單燈器件,進(jìn)行為96小時壽命試驗,其結(jié)果代表本生產(chǎn)批的所有外延片。

    一般認(rèn)為,試驗周期為1000小時或以上的稱為長期壽命試驗。生產(chǎn)工藝穩(wěn)定時,1000小時的壽命試驗頻次較低,5000小時的壽命試驗頻次可更低。

    過程與注意事項

    對于LED芯片壽命試驗樣本,可以采用芯片,一般稱為裸晶,也可以采用經(jīng)過封裝后的器件。采用裸晶形式,外界應(yīng)力較小,容易散熱,因此光衰小、壽命長,與實際應(yīng)用情況差距較大,雖然可通過加大電流來調(diào)整,但不如直接采用單燈器件形式直觀。

    采用單燈器件形式進(jìn)行壽命試驗,造成器件的光衰老化的因素復(fù)雜,可能有芯片的因素,也有封裝的因素。在試驗過程中,采取多種措施,降低封裝的因素的影響,對可能影響壽命試驗結(jié)果準(zhǔn)確性的細(xì)節(jié),逐一進(jìn)行改善,保證了壽命試驗結(jié)果的客觀性和準(zhǔn)確性。

    1、樣品抽取方式

    壽命試驗只能采用抽樣試驗的評估辦法,具有一定的風(fēng)險性。

    首先,產(chǎn)品質(zhì)量具備一定程度的均勻性和穩(wěn)定性是抽樣評估的前提,只有認(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量是均勻的,抽樣才具有代表性;

    其次,由于實際產(chǎn)品質(zhì)量上存在一定的離散性,我們采取分區(qū)隨機抽樣的辦法,以提高壽命試驗結(jié)果準(zhǔn)確性。我們通過查找相關(guān)資料和進(jìn)行大量的對比試驗,提出了較為科學(xué)的樣品抽取方式:將芯片按其在外延片的位置分為四區(qū),每區(qū)2~3粒芯片,共8~10粒芯片,對于不同器件壽命試驗結(jié)果相差懸殊,甚至矛盾的情況,我們規(guī)定了加嚴(yán)壽命試驗的辦法,即每區(qū)4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常條件進(jìn)行壽命試驗,只是數(shù)量加嚴(yán),而不是試驗條件加嚴(yán);

    第三,一般地說,抽樣數(shù)量越多,風(fēng)險性越小,壽命試驗結(jié)果的結(jié)果越準(zhǔn)確,但是,抽樣數(shù)量越多抽樣數(shù)量過多,必然造成人力、物力和時間的浪費,試驗成本上升。如何處理風(fēng)險和成本的關(guān)系,一直是我們研究的內(nèi)容,我們的目標(biāo)是通過采取科學(xué)的抽樣方法,在同一試驗成本下,使風(fēng)險性下降到最低。

    2、光電參數(shù)測試方法與器件配光曲線

    在LED壽命試驗中,先對試驗樣品進(jìn)行光電參數(shù)測試篩選,淘汰光電參數(shù)超規(guī)或異常的器件,合格者進(jìn)行逐一編號并投入壽命試驗,完成連續(xù)試驗后進(jìn)行復(fù)測,以獲得壽命試驗結(jié)果。

    為了使壽命試驗結(jié)果客觀、準(zhǔn)確,除做好測試儀器的計量外,還規(guī)定原則上試驗前后所采用的是同一臺測試儀測試,以減少不必要的誤差因素,這一點對光參數(shù)尤為重要;初期我們采用測量器件光強的變化來判斷光衰狀況,一般測試器件的軸向光強,對于配光曲線半角較小的器件,光強值的大小隨幾何位置而急劇變化,測量重復(fù)性差,影響壽命試驗結(jié)果的客觀性和準(zhǔn)確性,為了避免出現(xiàn)這種情況,采用大角度的封裝形式,并選用無反射杯支架,排除反射杯配光作用,消除器件封裝形式配光性能的影響,提高光參數(shù)測試的精確度,后續(xù)通過采用光通量測量得到驗證。

    3、樹脂劣變對壽命試驗的影響

    現(xiàn)有的環(huán)氧樹脂封裝材料受紫外線照射后透明度降低,是高分子材料的光老化,是紫外線和氧參與下的一系列復(fù)雜反應(yīng)的結(jié)果,一般認(rèn)為是光引發(fā)的自動氧化過程。樹脂劣變對壽命試驗結(jié)果的影響,主要體現(xiàn)1000小時或以上長期壽命試驗,目前只能通過盡可能減少紫外線的照射,來提高壽命試驗結(jié)果的果客觀性和準(zhǔn)確性。今后還可通過選擇封裝材料,或者檢定出環(huán)氧樹脂的光衰值,并將其從壽命試驗中排除。

    4、封裝工藝對壽命試驗的影響

    封裝工藝對壽命試驗影響較大,雖然采用透明樹脂封裝,可用顯微鏡直接觀察到內(nèi)部固晶、鍵合等情況,以便進(jìn)行失效分析,但是并不是所有的封裝工藝缺陷都能觀察到,例如:鍵合焊點質(zhì)量與工藝條件是溫度和壓力關(guān)系密切,而溫度過高、壓力太大則會使芯片發(fā)生形變產(chǎn)生應(yīng)力,從而引進(jìn)位錯,甚至出現(xiàn)暗裂,影響發(fā)光效率和壽命。

    引線鍵合、樹脂封裝引人的應(yīng)力變化,如散熱、膨脹系數(shù)等都是影響壽命試驗的重要因素,其壽命試驗結(jié)果較裸晶壽命試驗差,但是對于目前小功率芯片,加大了考核的質(zhì)量范圍,壽命試驗結(jié)果更加接近實際使用情況,對生產(chǎn)控制有一定參考價值。

    壽命試驗臺的設(shè)計

    壽命試驗臺由壽命試驗單元板、臺架和專用電源設(shè)備組成,可同時進(jìn)行550組(4400只)LED壽命試驗。

    根據(jù)壽命試驗條件的要求,LED可采用并聯(lián)和串聯(lián)兩種連接驅(qū)動形式。并聯(lián)連接形式:即將多個LED的正極與正極、負(fù)極與負(fù)極并聯(lián)連接,其特點是每個LED的工作電壓一樣,總電流為ΣIfn,為了實現(xiàn)每個LED的工作電流If一致,要求每個LED的正向電壓也要一致。

    但是,器件之間特性參數(shù)存在一定差別,且LED的正向電壓Vf隨溫度上升而下降,不同LED可能因為散熱條件差別,而引發(fā)工作電流If的差別,散熱條件較差的LED,溫升較大,正向電壓Vf下降也較大,造成工作電流If上升。雖然可以通過加入串聯(lián)電阻限流減輕上述現(xiàn)象,但存在線路復(fù)雜、工作電流If差別較大、不能適用不同VF的LED等缺點,因此不宜采用并聯(lián)連接驅(qū)動形式。

    串聯(lián)連接形式:即將多個LED的正極對負(fù)極連接成串,其優(yōu)點通過每個LED的工作電流一樣,一般應(yīng)串入限流電阻R,如圖二為單串電路,當(dāng)出現(xiàn)一個LED開路時,將導(dǎo)致這串8個LED熄滅,從原理上LED芯片開路的可能性極小。我們認(rèn)為壽命試驗的LED,以恒流驅(qū)動和串聯(lián)連接的工作方式為佳。

    采用常見78系列電源電路IC構(gòu)成的LED恒流驅(qū)動線路,其特點是成本低、結(jié)構(gòu)簡單、可靠性高;通過調(diào)整電位器阻值,即可方便調(diào)整恒流電流;適用電源電壓范圍大,驅(qū)動電流較精確穩(wěn)定,電源電壓變化影響較小。我們以圖二電路為基本路線,并聯(lián)構(gòu)成壽命試驗單元板,每一單元板可同時進(jìn)行11組(88只)LED壽命試驗。

    臺架為一般標(biāo)準(zhǔn)組合式貨架,經(jīng)過合理布線,使每一單元板可容易加載和卸載,實現(xiàn)在線操作。專用電源設(shè)備,輸出為5路直流36V安全電壓,負(fù)載能力為5A,其中2路具有微電腦定時控制功能,可自動開啟或關(guān)閉,5路輸入、輸出分別指示。

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